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S-RCAT (spherical recess cell allay transistor) 구조에 따른 FN stress 특성 열화에 관한 연구 = (The)research of FN stress property degradation according to S-RCAT structure
표제/저자사항
S-RCAT (spherical recess cell allay transistor) 구조에 따른 FN stress 특성 열화에 관한 연구 = (The)research of FN stress property degradation according to S-RCAT structure / 李東仁, 李成泳, 盧用翰
형태사항
p. 1614-1618 ; 30 cm
주기사항
수록자료: 전기학회논문지. 대한전기학회. 56卷 9號(2007년 9월), p. 1614-1618 56:9<1614 상세보기 ISSN 1975-8359
저자: 이동인, 정회원, 삼성전자 메모리 사업부 E-MAIL: Ddong71.lee@samsung.com
저자: 이성영, 정회원, 성균관대 전기전자컴퓨터공학과 교수 E-MAIL: AFC.LEE@samsung.com
저자: 노용한, 정회원, 삼성전자 메모리 사업부 E-MAIL: yhroh@skku.edu
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저자: 이성영, 정회원, 성균관대 전기전자컴퓨터공학과 교수 E-MAIL: AFC.LEE@samsung.com
저자: 노용한, 정회원, 삼성전자 메모리 사업부 E-MAIL: yhroh@skku.edu
출처
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MARC 보기
001KMO201509136
00520150303111639
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008150107s2001 gak 100 kor
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24500▼a생명이란 무엇인가? :▼b생명·환경·문화 8월 대 토론회 /▼d주최: 토지문화재단 ;▼e주관: 한국생명윤리학회,▼e토지문화관
260 ▼a원주 :▼b토지문화재단,▼c2001
300 ▼a81 p. ;▼c30 cm
500 ▼a일시 및 장소: 2001년 8월 18일(토) ~ 19일(일), 토지문화관
504 ▼a참고문헌 수록
650 8▼a생명 과학[生命科學]
650 8▼a생명론[生命論]
710 ▼a토지문화재단
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710 ▼a토지문화관
9501 ▼a가격불명
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
