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패턴 비교를 통한 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법 = (A)new defect inspection method for TFT-LCD panel using pattern comparison
표제/저자사항 패턴 비교를 통한 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법 = (A)new defect inspection method for TFT-LCD panel using pattern comparison / 李炅玟, 張聞秀, 朴符堅
형태사항 p. 307-313 ; 30 cm
주기사항 수록자료: 전기학회논문지. 대한전기학회. 57卷 2號(2008년 2월), p. 307-313 57:2<307 상세보기 ISSN 1975-8359
저자: 이경민, 정회원, 포항공과대학 전자전기공학과 박사과정
저자: 장문수, 정회원, 포항공과대학 전자전기공학과 박사과정
저자: 박부견, 정회원, 포항공과대학 전자전기공학과 교수, 공박 E-MAIL: ppg@postech.ac.kr
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담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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