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금속-산화막 반도체 전계효과 트랜지스터의 우주방사선에 의한 총이온화선량 시험을 위한 테스트 베드 = Test-bed of total ionizing dose(TID) test by cosmic rays for metal oxide semiconductor field effect transistor(MOSFET)
표제/저자사항 금속-산화막 반도체 전계효과 트랜지스터의 우주방사선에 의한 총이온화선량 시험을 위한 테스트 베드 = Test-bed of total ionizing dose(TID) test by cosmic rays for metal oxide semiconductor field effect transistor(MOSFET) / 신구환, 유광선, 정성인, 강경인, 김형명
형태사항 p. 84-91 ; 26 cm
주기사항 수록자료: 韓國航空宇宙學會誌. 韓國航空宇宙學會. 제34권 11호(2006년 11월), p. 84-91 34:11<84 상세보기 ISSN 1225-1348
저자: 신구환, 정회원, 한국과학기술원 인공위성연구센터 E-MAIL: ghshin@satrec.kaist.ac.kr
저자: 유광선, 정회원, 한국과학기술원 인공위성연구센터
저자: 정성인, 정회원, 한국과학기술원 인공위성연구센터
저자: 강경인, 정회원, 한국과학기술원 인공위성연구센터
저자: 김형명, 정회원, 한국과학기술원 인공위성연구센터
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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