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선험적 고장 데이터에 의한 TDX 계열 교환 소프트웨어의 결함 검출율 분석 = (An)examination of fault exposure rate of switching software of TDX series from empirical failure data
표제/저자사항 선험적 고장 데이터에 의한 TDX 계열 교환 소프트웨어의 결함 검출율 분석 = (An)examination of fault exposure rate of switching software of TDX series from empirical failure data / 李在起, 辛相權, 洪性伯
형태사항 p. 27-35 ; 26 cm
주기사항 수록자료: 電子工學會論文誌. S. 大韓電子工學會. 제36권 3호(1999년 3월), p. 27-35 36:3<27 상세보기 ISSN 1226-5837
저자: 이재기, 정회원, 한국전자통신연구원
저자: 신상권, 정회원, 한국전자통신연구원
저자: 홍성백, 정회원, 한국전자통신연구원
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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