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Hot carrier 현상에 의한 CMOS 차동 증폭기의 성능 저하 = (The)performance degradation of CMOS differential amplifiers due to hot carrier effects
표제/저자사항 Hot carrier 현상에 의한 CMOS 차동 증폭기의 성능 저하 = (The)performance degradation of CMOS differential amplifiers due to hot carrier effects / 朴玄鎭, 劉宗根, 鄭運達, 朴鍾泰
형태사항 p. 23-29 ; 26 cm
주기사항 수록자료: 電子工學會論文誌. D. 大韓電子工學會. 제34권 7호(1997년 7월), p. 23-29 34:7<23 상세보기 ISSN 1226-5845
저자: 박현진, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 유종근, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 정운달, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 박종태, 정회원, 인천대학교 전자공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
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24500▼a생명이란 무엇인가? :▼b생명·환경·문화 8월 대 토론회 /▼d주최: 토지문화재단 ;▼e주관: 한국생명윤리학회,▼e토지문화관
260 ▼a원주 :▼b토지문화재단,▼c2001
300 ▼a81 p. ;▼c30 cm
500 ▼a일시 및 장소: 2001년 8월 18일(토) ~ 19일(일), 토지문화관
504 ▼a참고문헌 수록
650 8▼a생명 과학[生命科學]
650 8▼a생명론[生命論]
710 ▼a토지문화재단
710 ▼a한국생명윤리학회
710 ▼a토지문화관
9501 ▼a가격불명
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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