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Hot-carrier 현상에 의한 folded-cascode CMOS op-amp의 성능 저하 = (The)performance degradation of a folded-cascode CMOS op-amp due to hot-carrier effects
표제/저자사항 Hot-carrier 현상에 의한 folded-cascode CMOS op-amp의 성능 저하 = (The)performance degradation of a folded-cascode CMOS op-amp due to hot-carrier effects / 金炫中, 劉宗根, 鄭運達, 朴鍾泰
형태사항 p. 39-45 ; 26 cm
주기사항 수록자료: 電子工學會論文誌. D. 大韓電子工學會. 제34권 12호(1997년 12월), p. 39-45 34:12<39 상세보기 ISSN 1226-5845
저자: 김현중, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 유종근, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 정운달, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 박종태, 정회원, 인천대학교 전자공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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