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Hot carrier에 의한 RF NMOSFET의 성능저하에 관한 연구 = (A)study on the hot carrier induced performance degradation of RF NMOSFET's
표제/저자사항 Hot carrier에 의한 RF NMOSFET의 성능저하에 관한 연구 = (A)study on the hot carrier induced performance degradation of RF NMOSFET's / 金東郁, 劉宗根, 劉賢奎, 朴鍾泰
형태사항 p. 60-66 ; 26 cm
주기사항 수록자료: 電子工學會論文誌. D. 大韓電子工學會. 제35권 10호(1998년 10월), p. 60-66 35:10<60 상세보기 ISSN 1226-5845
저자: 김동욱, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 유종근, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 유현규, 정회원, 한국전자통신연구원 반도체연구단
저자: 박종태, 정회원, 인천대학교 전자공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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