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회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 = Test generation for sequential circuits based on circuit partitioning
표제/저자사항 회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 = Test generation for sequential circuits based on circuit partitioning / 崔淏鎔
형태사항 p. 30-37 ; 26 cm
주기사항 수록자료: 電子工學會論文誌. C. 大韓電子工學會. 제35권 4호(1998년 4월), p. 30-37 35:4<30 상세보기 ISSN 1226-5853
저자: 최호용, 정회원, 충북대학교 전기전자공학부
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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