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SIMS depth profiling을 이용한 동선(copper wires)의 표면 산화 및 흡착에 대한 연구 = Study of thermal oxidization and adsorption in the copper wire using SIMS depth profiling
표제/저자사항 SIMS depth profiling을 이용한 동선(copper wires)의 표면 산화 및 흡착에 대한 연구 = Study of thermal oxidization and adsorption in the copper wire using SIMS depth profiling / 박종진, 홍태은, 이동계, 조영진, 서영일, 문병선, 박종찬, 박혁규, 이정식
형태사항 p. 6-10 ; 28 cm
주기사항 수록자료: 한국법과학회지. 한국법과학회. 제9권 1호(2008년 6월), p. 6-10 9:1<6 상세보기 ISSN 1598-0715
저자: 박종진, 경성대학교 물리학과 E-MAIL: vortex820@nisi.go.kr
저자: 홍태은, 한국기초과학지원연구원
저자: 이동계, 국립과학수사연구소 남부분소
저자: 조영진, 국립과학수사연구소 남부분소
저자: 서영일, 국립과학수사연구소 남부분소
저자: 문병선, 국립과학수사연구소 남부분소
저자: 박종찬, 국립과학수사연구소 남부분소
저자: 박혁규, 부산대학교 물리학과
저자: 이정식, 경성대학교 물리학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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