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부분 해밍 거리의 순차적 분석을 통한 이진 특징 기술자의 고속 정합에 관한 연구 = (A) study on fast matching of binary feature descriptors through sequential analysis of partial hamming distances
표제/저자사항 부분 해밍 거리의 순차적 분석을 통한 이진 특징 기술자의 고속 정합에 관한 연구 = (A) study on fast matching of binary feature descriptors through sequential analysis of partial hamming distances / 박한훈, 문광석
형태사항 p. 217-221 ; 30 cm
주기사항 수록자료: 信號處理·시스템學會 論文誌. 한국신호처리·시스템학회. 14권 4호(2013년 10월), p. 217-221 14:4<217 상세보기 ISSN 1229-9480
저자: 박한훈, 부경대학교 전자공학과 조교수
저자: 문광석, 부경대학교 전자공학과 교수
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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