학위논문
The growth kinetics and interfacial properties of high k dielectric grown by atomic layer deposition for metal-oxide-semiconductor MOS device applications = 금속 산화물 반도체 소자용 원자층 증착법으로 성장된 고유전율 절연막의 계면특성과 성장역학
표제/저자사항 The growth kinetics and interfacial properties of high k dielectric grown by atomic layer deposition for metal-oxide-semiconductor MOS device applications = 금속 산화물 반도체 소자용 원자층 증착법으로 성장된 고유전율 절연막의 계면특성과 성장역학 / Hyo Sik, Chang
발행사항 Gwangju: Gwangju Institute of Science & Technology, 2004
형태사항 x, 98 leaves: ill.; 30 cm
주기사항 Thesis(Ph.D.) -- Gwangju Institute of Science & Technology: Dept. of Material Science & Engineering, 2004.
Includes bibliographies.
분류기호 한국십진분류법-> 530.495듀이십진분류법-> 620.195
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담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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