학위논문
A laterally robust mems probe card for fine pitch test using a new cantilever moving scheme = 새로운 외팔보 동작 형태를 이용한 미세피치 측정을 위한 강건한 초소형 프로브 카드
표제/저자사항 A laterally robust mems probe card for fine pitch test using a new cantilever moving scheme = 새로운 외팔보 동작 형태를 이용한 미세피치 측정을 위한 강건한 초소형 프로브 카드 / Bong-hwan Kim
발행사항 Seoul: Seoul National Univ., 2005
형태사항 vii, 111 leaves: ill., charts; 26 cm
주기사항 Thesis(Ph.D.) -- Seoul National Univ., School of Electrical Engineering and Computer Science, College of Engineering, 2005.
Bibliography: leaves 103-107.
분류기호 한국십진분류법-> 569.4듀이십진분류법-> 621.38152
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
위로