학위논문
高集積 記憶素子用 積層 커패시터 絶緣薄膜 SiO₂ / Si₃N₄의 形成 및 特性에 關한 硏究 = (A)study on formation and characterization of stacked capacitor dielectric thin film (SiO₂ / Si₃N₄) for high density DRAM
표제/저자사항 高集積 記憶素子用 積層 커패시터 絶緣薄膜 SiO₂ / Si₃N₄의 形成 및 特性에 關한 硏究 = (A)study on formation and characterization of stacked capacitor dielectric thin film (SiO₂ / Si₃N₄) for high density DRAM / 丘庚完
발행사항 대전: 忠南大學校, 1992
형태사항 vii,110장: 삽도; 26cm
주기사항 학위논문(박사) -- 충남대학교 대학원: 전자공학과 반도체 재료공학전공, 1992
분류기호 한국십진분류법-> 569.91듀이십진분류법-> 621.38173
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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