학위논문
반도체 웨이퍼상의 입자 침착속도의 측정 및 제어 = Measurement and control of particle deposition velocity on a semiconductor wafer surface
표제/저자사항 반도체 웨이퍼상의 입자 침착속도의 측정 및 제어 = Measurement and control of particle deposition velocity on a semiconductor wafer surface / 배귀남
발행사항 대전: 한국과학기술원, 1994
형태사항 xiii,109장: 삽도; 26cm
주기사항 학위논문(박사) -- 한국과학기술원: 항공우주공학과, 1994
분류기호 한국십진분류법-> 558.13듀이십진분류법-> 629.1323
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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