학위논문
A study on the low voltage deep submicron nMOSFET design and reliability = 초미세 저전압 nMOSFET의 설계 및 신뢰성에 관한 연구
표제/저자사항 A study on the low voltage deep submicron nMOSFET design and reliability = 초미세 저전압 nMOSFET의 설계 및 신뢰성에 관한 연구 / Shi-Ho Kim
발행사항 대전: Korea Advanced Institute of Science and Technology, 1995
형태사항 iv,132 p.: ill.; 26cm
주기사항 학위논문(박사) -- 한국과학기술원: 전기 및 전자공학과, 1995
분류기호 한국십진분류법-> 569.8듀이십진분류법-> 621.38173
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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