학위논문
CMOS VLSI의 신뢰도 향상을 위한 IDDQ 테스팅에 관한 연구 = (A)study on IDDQ testing for highly reiable CMOS VLSI
표제/저자사항 CMOS VLSI의 신뢰도 향상을 위한 IDDQ 테스팅에 관한 연구 = (A)study on IDDQ testing for highly reiable CMOS VLSI / 金强哲
발행사항 진주: 慶尙大學校, 1996
형태사항 ix,116장: 삽도; 26cm
주기사항 학위논문(박사) -- 경상대학교 대학원: 전자공학과, 1996
분류기호 한국십진분류법-> 569.8듀이십진분류법-> 621.38173
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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