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저온 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 비정상적인 Hump 현상 분석: . = Analysis of an anomalous hump phenomenon in low-temperature poly-si thin film transistors
표제/저자사항
저온 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 비정상적인 Hump 현상 분석: . = Analysis of an anomalous hump phenomenon in low-temperature poly-si thin film transistors / Yu-Mi Kim 정광석Kwang Seok Jeong 윤호진Ho Jin Yun Seung-Dong Yang Sang-Youl Lee Hi-Deok Lee Ga-Won Lee
발행사항
서울 : 한국전기전자재료학회, 2011
형태사항
주기사항
수록자료: Journal of KIEEME 제24권 제11호 (20111101), p. 900-904
표준번호/부호
ISSN 1226-7945
UCI G701:C-00056514191
UCI G701:C-00056514191
분류기호
한국십진분류법-> 569.205
출처
국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
