국가전거
저자 전거 검색
전자책
주문형 비메모리 반도체 웨이퍼칩 검사용 고성능 카드 제조 기술 개발 = Development of manufacturing technology of high-performance probe card for Inspection of non-memory semiconductor wafer chip
표제/저자사항
주문형 비메모리 반도체 웨이퍼칩 검사용 고성능 카드 제조 기술 개발 = Development of manufacturing technology of high-performance probe card for Inspection of non-memory semiconductor wafer chip / 한국생산기술연구원 [편]송신애 [1978-] 연구책임자김기영 참여연구원임성남 [1984-] 참여연구원김준홍 참여연구원김형태 참여연구원윤철상 참여연구원
발행사항
[과천] : 과학기술정보통신부, 2018
형태사항
주기사항
서지: 참고문헌: p. 23
분류기호
한국십진분류법-> 323.694
주제명
비메모리 반도체 웨이퍼[非--半導體--]
출처
국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
