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근적외선 초분광 영상을 이용한 사과 외부결함 검출 = Segmentation of apple’s external defect based on near-infrared hyperspectral imaging system
표제/저자사항 근적외선 초분광 영상을 이용한 사과 외부결함 검출 = Segmentation of apple’s external defect based on near-infrared hyperspectral imaging system / Ahyeong Lee Jinse Kim Suk-Ju Hong
발행사항 천안 : 한국산학기술학회, 2023
형태사항 PDFp. 559-567
주기사항 서지: 참고문헌 수록
기금: 본 연구는 농촌진흥청 국립농업과학원 농업과학기술연구개발사업(과제번호: PJ01709502)의 지원에 의해 이루어진 것임.
언어: 영어 요약 있음
수록자료: 한국산학기술학회논문지 Vol.24 no.12(2023년 12월) p. 559-567 eISSN 2288-4688
주제명 근적외선[近赤外線]   결함 검출[缺陷檢出]   
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6361)
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