개선된 베버의 법칙을 이용한 디스플레이 필름 표면 얼룩의 자동 검출 기법에 관한 연구 = A study on automatic detection technology of mura defectin display film using advanced weber's law
표제/저자사항
개선된 베버의 법칙을 이용한 디스플레이 필름 표면 얼룩의 자동 검출 기법에 관한 연구 = A study on automatic detection technology of mura defectin display film using advanced weber's law / Myung-muk kim