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플래시 메모리의 마모로 인한 오류 증가를 극복하기 위한 오류율 예측 방법과 확장 가능한 LDPC 구조 연구 = Study of flash memory error prediction scheme and expandable LDPC architecture to overcome error-rate growth due to flash memory wear-out

표제/저자사항 플래시 메모리의 마모로 인한 오류 증가를 극복하기 위한 오류율 예측 방법과 확장 가능한 LDPC 구조 연구 = Study of flash memory error prediction scheme and expandable LDPC architecture to overcome error-rate growth due to flash memory wear-out / 한밭대학교 주관연구기관이현빈 주관연구책임자

발행사항 [과천] : 미래창조과학부, 2017

형태사항 PDF29 p.

주기사항 서지: 참고문헌: p. 13-15
언어: 영어 요약 있음
국가연구개발 보고서원문 성과물 전담기관인 한국과학기술정보연구원에서 가공·서비스 하는 연구보고서는 동의 없이 상업적 및 기타 영리목적으로 사용할 수 없습니다.

표준번호/부호 COI KISTI2.1015/RPT.TRKO201800004247
DOI 10.23000/TRKO201800004247

분류기호 한국십진분류법-> 004

주제명 오류율[誤謬率]

출처 국립중앙도서관 바로가기

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