학위논문
A novel opto-electronic characterization technique for interface states and model parameters in deep-submicron devices = 극미세 구조 반도체 소자의 계면상태 및 특성변수 추출을 위한 새로운 광-전 특성분석 방법과 그 응용에 관한 연구
표제/저자사항 A novel opto-electronic characterization technique for interface states and model parameters in deep-submicron devices = 극미세 구조 반도체 소자의 계면상태 및 특성변수 추출을 위한 새로운 광-전 특성분석 방법과 그 응용에 관한 연구 / 김해택
발행사항 Seoul: Kookmin Univ., 2005
형태사항 xi, 103 leaves: charts; 26 cm
주기사항 Thesis(Ph.D.) -- Graduate School, Kookmin Univ., Dept. of Electronics Engineering, 2005.
Bibliography: leaves 88-94.
분류기호 한국십진분류법-> 569.4듀이십진분류법-> 621.38152
주제명 반도체[半導體]
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6361)
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